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        鉑悅儀器(上海)有限公司

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        X射線鍍層測厚儀

        更新時間:2021-03-02

        產品品牌:Bruker

        產品型號:M1 ORA

        產品描述:M1 ORA是適用于珠寶行業的臺式X射線熒光光譜儀(μ-XRF)

        M1 ORA是適用于珠寶行業的臺式X射線鍍層測厚儀,結構緊湊、占用空間小。

        M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成,分析元素范圍:原子序數22號(鈦)以上的元素。
        上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以對復雜式樣的樣品進行非接觸、非破壞性的分析,數分鐘內就可以得到結果。

        樣品尺寸大可達100×100×100mm,無需處理,直接放在樣品臺上檢測,采用光學顯微鏡進行準確定位。

        采用大感應面積的正比計數器接收樣品發出的熒光信號。采集的信號越多,分析結果越準確??梢詸z測含量在0.005的元素

        基于標樣模型或無標樣模型,可以鑒別和定量分析樣品中的元素。

        珠寶、黃金、貴金屬分析

        X射線熒光光譜儀是非基礎和非破壞性分析,同時能夠得到高準確度測試結果的分析方法

        由于珠寶首飾件通常都小,又有些是采用不同貴金屬組合,X射線熒光光譜儀分析過程能采用儀器內的準直器將激發的X射線集中于一小點。

        行業應用:

        X射線熒光光譜儀測量可廣泛適用于大量的黃金合金系列,可測量材料包括金、銀、銅、鈀、鉑、銠等貴金屬元素

        黃金成分范圍0.35(8克拉/K)~(24克拉/K)

        適用于:白金、黃金、鉑合金、銀合金

         

         

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