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        鉑悅儀器(上海)有限公司

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        TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR

        更新時間:2020-08-12

        產品品牌:Bruker

        產品型號:S4 TSTAR

        產品描述:X射線熒光(XRF)光譜法在多個行業中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析,檢測限值低于PPb 量級。

        S4 TStar — TXRF全反射X射線熒光光譜儀
               數十年來,X 射線熒光(XRF)光譜法在多個行業中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析,檢測限值低于PPb 量級。TXRF 擴展了XRF 的應用范圍,可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。

        優異的樣品通用性
        S4 TStar 是一種通用性很強的工具,可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。

        ICP 只能分析完全溶解的液體樣品。


        圖一:30 毫米石英片:對液體、固體和懸浮液進行元素分析
        圖二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科學研究
        圖三:顯微鏡載玻片:臨床和生物學樣品,直接分析細胞培養物、涂片和切片
        圖四:矩形載體:尺寸小于54 毫米,用于膜片、濾片、納米顆粒層
                                    定制的反射介質

         

        行業應用:

        ·  藥品
        檢測活性藥物成分中的催化元素:液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm
        ·  食品
        糧農組織和世衛組織的食品標準:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。
        ·  環境監測
        環境監測:地表水,廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

         

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