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        鉑悅儀器(上海)有限公司

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        反射膜厚儀

        更新時間:2020-08-12

        產品品牌:Semiconsoft

        產品型號:MProbe NIR

        產品描述:采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域

        產品概述

        采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域,比如在可見光范圍內有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測量。

        測量范圍: 100 nm -200um

        波長范圍: 900 nm -2500 nm

        適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

        測量指標:薄膜厚度,光學常數

        界面友好: 一鍵式測量和分析。

        實用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,背景和變形校正,連接層和材料,多樣品測量,動態測量和產線批量處理。

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